Závěrečná práce: Mgr. David Nečas: Optical characterisation of non-uniform thin films
Disertační práce
Optical characterisation of non-uniform thin films
Anotace
Studuje se vliv plošné neuniformity tenkých vrstev na jejich optickou charakterizaci se zaměřením na neuniformitu v tloušťce. Jsou navrženy vhodné modely a parameterizace pro zahrnutí tohoto defektu do výpočtu optických veličin. Jejich použitelnost je ověřena jak numerickými studiemi, tak charakterizací skutečných vzorků neuniformích tenkých vrstev.
Abstract
Influence of area non-uniformity of thin films on their optical characterisation is studied, with focus on thickness non-uniformity. Suitable models and parametrisations are proposed for incorporation of this defect into the calculation of optical quantities. Their applicability is verified both using numeric studies and by characterisation of real samples of non-uniform thin films.
18. 2. 2013 12:48, prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397
Vedoucí
Oponenti
VŠB-Technická univerzita Ostrava
Přírodovědecká fakulta UP, Olomouc
Práce na příbuzné téma
Seznam prací, které mají shodná klíčová slova.
-
Opticé vlastnosti tenkých vrstev nestechiometrického nitridu křemíku připravených metodou reaktivního magnetronového naprašování
Mgr. Martin Málek -
Optická charakteristika tenkých vrstev nitridu křemíku
Mgr. Martin Málek -
Barevné a polarizační filtry brýlových čoček a jejich význam při ochraně zraku před slunečním zářením
Mgr. Marie Tomanová -
Určení optických konstant tenkých substrátů v infračervené oblasti
Mgr. Jiří Večeře -
Studium optické odezvy feromagnetických oxidů manganu
Mgr. Marek Duchaň, učo 506115 -
Optická odezva mezipásových přechodů LaFeO3
Mgr. Matej Červeň -
Určování optických konstant a strukturních parametrů tenkých DLC vrstev s příměsí křemíku a kyslíku
Bc. Pavlína Kührová, učo 474850 -
Advanced ellipsometric techniques and studies of low-k dielectric films.
Mgr. Přemysl Maršík, Ph.D., učo 13477




