Závěrečná práce: Miloš Hronček: Určování pnutí v tenkých vrstvách
Bakalářská práce
Určování pnutí v tenkých vrstvách
Strain analysis in thin layers
Anotace
Obsahom tejto práce je opis experimentov, ktoré viedli k určeniu napätia v tenkých CN_X vrstvách deponovaných na Si substráte s orientáciou (001). Teoretická časť sa zaoberá všeobecným rozborom napätia a deformácie kontinua a vzťahu medzi nimi. Na základe tohto rozboru je potom vysvetlený Stoneyho vzťah. Experimentálna časť opisuje meranie krivosti pomocou RTG difrakcie.
Abstract
The content of this work is description of experiments that led to the identification of stress in thin CN_X films deposited on Si substrate with (001) orientation. The theoretical part deals with the general analysis of stress and deformation of the continuum and the relationship between them. The explanation of the Stoney’s equation is then based on this analysis. Experimental section describes the curvature measurement by X-ray diffraction.
Zadání práce
30. 5. 2011 07:00, doc. Mgr. Ondřej Caha, Ph.D., učo 4414
- Zadáno/změněno 25. 6. 2012 09:32, Irena Mitášová
- Záznam založen 1. 2. 2011 15:27, Pavla Kupcová
- Zveřejnit od 20. 5. 2011 11:00, Pavla Kupcová
- Práce převzata 20. 5. 2011 11:00, Pavla Kupcová
Vedoucí
Práce na příbuzné téma
Seznam prací, které mají shodná klíčová slova.
-
Studium fázových přechodů pomocí rtg difrakce
Bc. Miroslav Švec -
Žíháním vyvolané strukturní změny tenkých vrstev organických polovodičů.
Mgr. Zbyněk Fišer -
Stanovení obsahu stříbra v lehké matrici metodou XRF
Bc. Terezie Urbánková -
Povrchový plasmon- optimalizace kovové vrstvy
Mgr. Michala Slabá -
Optické vlastnosti amalgamu
Mgr. Josef Daniel, Ph.D., učo 269028 -
Potenciály a geometrie v kvantové mechanice
Mgr. František Martínek -
Strukturní analýza vodivé vrstvy naprášené na křemíkovou desku
Mgr. Jiří Havelka -
In-situ studie vývoje vnitřního pnutí ve vrstvách připravovaných magnetronovým naprašováním
Mgr. Nikola Tulisová




